| Course Title (дисциплина) | Semester (winter/ summer) (семестр) | Level of study (уровень изучения) | Workload (трудоемкость) | Assessment (форма отчетности) | |
| Hours (часы) | Credits (кредиты) | ||||
| Basics of Electronics/ Основы электроники | W/S | Bachelor | 64 | 6 | Exam |
| Computer Aided Design of Electronic Devices/ Автоматизированное проектирование электронных устройств | W/S | Мaster | 48 | 3 | Exam |
| Computer Technologies/ Компьютерные технологии | W | Bachelor | 32 | 2 | Credit Test |
| Data Processing and Display Systems/ Системы обработки и отображения информации | W/S | Мaster | 80 | 6 | Exam |
| Digital Signal Design/ Цифровая обработка сигналов | S | Bachelor | 32 | 2 | Exam |
| Digital Signal Processing (DSP)/ Аппаратные и программные средства обработки аналоговых сигналов (DSP) | S | Мaster | 64 | 6 | Exam |
| Digital Signal Processing/ Цифровая обработка сигналов | W/S | Мaster | 80 | 6 | Exam |
| Electronic for Measuring Devices/ Электроника для измерительных приборов | W/S | Bachelor | 80 | 6 | Exam |
| Electronic Industrial Facilities/ Электронные промышленные устройства | W/S | Мaster | 32 | 3 | Exam |
| Field-Programmable Gate Arrays/ Программируемые логические схемы | W/S | Мaster | 48 | 6 | Exam |
| Heat Transfer/ Теплопроводимость | W/S | Bachelor/ Мaster | 48 | 3 | Exam |
| Information Technologies in Instrument Engineering/ Информационные технологии в приборостроении | W | Мaster | 48 | 6 | Exam |
| Information Technologies in Instrument Engineering 2/ Информационные технологии в приборостроении 2 | W | Мaster | 48 | 6 | Exam |
| Intelligent Information Systems/ Интеллектуальные информационные системы | W/S | Bachelor | 32 | 3 | Exam |
| Methods of NDT/ Методы контроля | S | Bachelor | 32 | 2 | Credit Test |
| Metrological Support of Measurements, Monitoring and Diagnostics/ Метрологическое обеспечение измерений, контроля и диагностики | S | Bachelor / Мaster | 72 | 6 | Exam |
| Microprocessor Control Systems/ Микропроцессорные системы управления и контроля | W | Мaster | 64 | 6 | Exam |
| Microprocessor System Interfaces/ Интерфейсы микропроцессорных систем | W | Мaster | 64 | 3 | Exam |
| Multi-bit Microcontrollers/ Многоразрядные микроконтроллеры | W/S | Мaster | 48 | 6 | Exam |
| Non-destructive Testing International Normative Technical Documentation/ Международная нормативно-техническая документация по неразрушающему контролю | S | Master | 32 | 2 | Credit Test |
| Operational Amplifier Applications/ Применение операционных усилителей | W | Bachelor | 64 | 6 | Exam |
| Power Electronics/ Силовая электроника | W | Мaster | 64 | 6 | Exam |
| Quality Measurement/ Измерение качества | W | Bachelor | 32 | 2 | Credit Test |
| Organization Self-Assessment/ Самооценка организации | S | Мaster | 32 | 2 | Credit Test |
| Thermodynamics/ Термодинамика | W/S | Bachelor/ Мaster | 48 | 3 | Exam |
| Topical Problems in Biomedical Engineering/ Актуальные проблемы в биомедицинской инженерии | W/S | Мaster | 64 | 6 | Credit Test |
| Topical Problems in Modern Electronics and Nanoelectronics/ Актуальные проблемы современной электроники и наноэлектроники | S | Мaster | 32 | 3 | Credit Test |
International Student Department